● 測試參數：L,C,R,Z,D,Q,θ（deg）,θ（rad）,Vm,Im ● 測試頻率：50Hz~200kHz （24064點） ● 基本準確度：0.05% ● 測試電平：0.01V~2.00V 以10mV步進 ● 測試速度：4次/秒，9次/秒，25次/秒 ● 主參數5位，副參數6位顯示

AT811 精簡了全功能型AT810的電路，大規模的貼片技術的運用，使用安柏科技經典的微型機箱。內建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測試頻率，并且提供0.3V，1V測試電平，使其能*一般生產現場的使用。使用安柏科技 AT-OS 2007 微型儀器操作系統，使AT811更易用。

● 測試參數：L,C,R,Z,D,Q,θ（deg）,θ（rad） ● 測試頻率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz ● 基本準確度：0.1% ● 測試電平：0.1V, 0.3V, 1.0V ● 測試速度：1.5次/秒，5次/秒，15次/秒 ● 主副參數5位顯示

● 測試主副參數：Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,G-B,R-X,Z-θrad,Z-θdeg ● 測試監視參數:Z,D,Q,θr,θd,R,X,G,B,Y,Vac,Iac,Δ,Δ% ● 測試頻率：50Hz~200kHz (24064點) ● 基本準確度：0.05% ● 測試電平：0.01V~2.00V 以10mV步進

● 測試參數：L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad) ● 測試頻率：50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,200Hz,400Hz,500Hz,1kHz, ● 2kHz,4kHz,5kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz ● 基本準確度：0.05% ● 測試電平：0.01V~2.00V 以10mV步進