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產(chǎn)品中心 國(guó)產(chǎn)-耐壓絕緣接地泄漏低電阻儀
國(guó)產(chǎn)-耐壓絕緣接地泄漏低電阻儀 國(guó)產(chǎn)-低電阻測(cè)試儀
國(guó)產(chǎn)-低電阻測(cè)試儀
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產(chǎn)品分類(lèi)AT510PRO是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電阻測(cè)試儀。可以測(cè)試1μΩ~20MΩ的電阻,Z大顯示30,000數(shù)。高速測(cè)試60次/秒,測(cè)試速度在15次/秒下,依然可以保證0.05%±3字的準(zhǔn)確度。它*的三種電流測(cè)試模式(大電流、小電流、脈沖測(cè)試模式)可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。
 更新時(shí)間:2017-07-23
更新時(shí)間:2017-07-23 產(chǎn)品型號(hào):AT510Pro
產(chǎn)品型號(hào):AT510Pro 瀏覽量:1967
瀏覽量:1967熱敏電阻測(cè)試儀AT5112 PTC電阻測(cè)試儀 內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路,可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值,忽略PTC的自身溫度敏感特性,達(dá)到精確測(cè)試,測(cè)試誤差小于0.1Ω,準(zhǔn)確度0.1%。 采樣微處理器控制的AT5112可實(shí)現(xiàn)不開(kāi)蓋校準(zhǔn),其Z高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒,無(wú)論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。
 更新時(shí)間:2018-05-26
更新時(shí)間:2018-05-26 產(chǎn)品型號(hào):AT5112
產(chǎn)品型號(hào):AT5112 瀏覽量:2608
瀏覽量:2608安柏Applent|AT510X40 40路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,定制量程,從1μΩ~3MΩ,Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms/次,AT510X20 40路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)800個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口,將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。
 更新時(shí)間:2017-11-07
更新時(shí)間:2017-11-07 產(chǎn)品型號(hào):40數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X40
產(chǎn)品型號(hào):40數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X40 瀏覽量:2140
瀏覽量:2140安柏Applent|AT510X20 20路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,定制量程,從1μΩ~3MΩ,Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms,AT510X20 20路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)400個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口,將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。
 更新時(shí)間:2017-11-04
更新時(shí)間:2017-11-04 產(chǎn)品型號(hào):20數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X20
產(chǎn)品型號(hào):20數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X20 瀏覽量:1927
瀏覽量:1927安柏Applent|AT510X10 10路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,定制量程,從1μΩ~3MΩ,Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms/次,AT510X10 十路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)200個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口,將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。
 更新時(shí)間:2017-11-10
更新時(shí)間:2017-11-10 產(chǎn)品型號(hào):10數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X10
產(chǎn)品型號(hào):10數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X10 瀏覽量:2557
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